%A 王真,江建慧 %T 软差错影响下的电路可靠性分析 %0 Journal Article %D 2016 %J 计算机科学 %R 10.11896/j.issn.1002-137X.2016.05.002 %P 9-12 %V 43 %N 5 %U {https://www.jsjkx.com/CN/abstract/article_16031.shtml} %8 2018-12-01 %X 随着大数据时代的到来,人们对微处理器可靠性的要求也越来越高,同时处理器芯片内电路密度的增大使其更易受到软差错的侵害,因此软差错影响下的电路可靠性问题显得尤为重要。针对这一问题,从系统结构级、RTL、门级及电路级4个抽象层次进行了全面的分析,并在每个抽象层次上依据方法属性做了分类介绍和比较。