计算机科学 ›› 1998, Vol. 25 ›› Issue (5): 127-129.
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王勇 陈光Ju
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关键词: VLSI 门时滞故障 可测性 集成电路
王勇 陈光Ju. 门时滞故障的可测性分析[J]. 计算机科学, 1998, 25(5): 127-129. https://doi.org/
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