软硬件测试中预确定距离测试

计算机科学 ›› 2009, Vol. 36 ›› Issue (5): 133-137.

软硬件测试中预确定距离测试

朱经纷徐拾义

上海大学计算机工程与科学学院,上海200072

出版日期:2018-11-16 发布日期:2018-11-16
基金资助:
本文受国家自然科学基金资助项目（60473033）资助.

ZHU Jing-fen XU Shi yi （School of Computer Engineering and Science, Shanghai University, Shanghai 200072 ,China）

Online:2018-11-16 Published:2018-11-16

摘要/Abstract

摘要： 在随机测试的基础上提出了VLSI电路测试中的一个新概念，即预确定距离测试。随机测试广泛应用于软硬件测试中已经有多年了。众所周知，随机测试中每个测试码都是随机选取的而不管它是否与先前生成的测试码重复。尽管由于测试码选取的随机性使得随机测试并不是十分有效，但是对它作了一些实质性修改从而大大提高了它的测试效率。在预确定距离测试中，总是选择总距离最大的测试码来进行测试，以便使得该测试码所检测到的故障与先前的测试码所检测到的故障尽可能地不同。还详细介绍了构造一个预确定距离测试序列的生成算法，并将其应用到软件测试中。

关键词: 随机测试海明距离笛卡儿距离生成矩阵预确定距离

Abstract: This paper, based on the random testing,introduced a new eoncept of so called Predetermined Distance Testing （PDDT） for VLSI circuits. Random testing has been employed for years in both software and hardware testing. It is well known that in random testin

Key words: Hamming distance,Cartesian distance,Generation matrix,Predetermined distance

朱经纷徐拾义. 软硬件测试中预确定距离测试[J]. 计算机科学, 2009, 36(5): 133-137. https://doi.org/

ZHU Jing-fen XU Shi yi （School of Computer Engineering and Science, Shanghai University, Shanghai 200072 ,China）. [J]. Computer Science, 2009, 36(5): 133-137. https://doi.org/

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