摘要: 分析了CMOS逻辑门电路在运行时的电流特征,阐明了集成电路中数据与电磁辐射的相关性,建立了寄存器级电磁信息泄漏汉明距离模型。通过针对P89C668单片机实现的DES密码系统的攻击实验,介绍了相关电磁分析(Correlation Elcctromagnctic Analysis,CEMA)算法的设计与实现,分析了攻击点D的选择和计算方法,成功获得了DES第16轮48位子密钥,验证了电磁信息泄漏汉明距离模型。实验结果表明,工作状态下的CMOS集成电路存在电磁信息泄漏现象,相关分析比差分攻击更有效,DES每一轮
丁国良,赵强,张政保,杨素敏. 数据加密标准的相关电磁分析[J]. 计算机科学, 2009, 36(9): 100-102. https://doi.org/
DING Guo-liang, ZHAO Qiang, ZHANG Zheng-bao, YANG Su-min. Research on Correlation Electromagnetic Analysis for DES[J]. Computer Science, 2009, 36(9): 100-102. https://doi.org/