计算机科学 ›› 2002, Vol. 29 ›› Issue (z2): 91-93.
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杨勇 孙爽滋 侯增杰
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摘要: 1引言 散斑干涉测量技术是六十年代末发展起来的一种光学测试技术,具有非接触、测量精度高、对环境的防震要求低、可在明光下操作、能进行全场测量等特点,因而广泛地应用于光学粗糙表面的变形测量和无损检测.……
杨勇 孙爽滋 侯增杰. ESPI条纹图像细化处理的研究[J]. 计算机科学, 2002, 29(z2): 91-93. https://doi.org/
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