计算机科学 ›› 2002, Vol. 29 ›› Issue (z2): 91-93.

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ESPI条纹图像细化处理的研究

杨勇 孙爽滋 侯增杰   

  1. 长春理工大学计算机系,长春,130022 长春理工大学计算机系,长春,130022 长春理工大学计算机系,长春,130022
  • 出版日期:2018-11-17 发布日期:2018-11-17

  • Online:2018-11-17 Published:2018-11-17

摘要: 1引言   散斑干涉测量技术是六十年代末发展起来的一种光学测试技术,具有非接触、测量精度高、对环境的防震要求低、可在明光下操作、能进行全场测量等特点,因而广泛地应用于光学粗糙表面的变形测量和无损检测.……

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